二阶微分火焰发射光谱仪获国家发明专利

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火力发电厂商业核电站水汽中痕量危害性杂质（钠、铁、铜）现场检测的一次性解决方案

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二阶微分火焰发射光谱仪获国家发明专利

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专利号：ZL2011 1 0279428.0

本发明是一种原子化温度可以连续调节的专门用于检测火力发电厂、商业核电站水、汽系统中的“μg/L”、“μg/kg”级痕量危害性杂质Na⁺、Fe、Cu、Cl^-、SO₄^-2等含量的二阶微分火焰发射光谱仪。本发明专利的核心技术是：通过调节富氧空气的氧气流量改变火焰原子化温度以满足不同电离能的元素原子化温度不同的要求，产生极低火焰背景干扰的特征谱线。电厂化学网!zh5IZf

采用具有波长调制功能的自动扫描二阶微分精密光栅单色仪技术，能自动扣除待分析元素的特征谱线附近的各种背景干扰。

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这种扣除了“背景干扰”的特征谱线的二阶导数谱经光电倍增管转变成调频交流电信号后再经微电流锁相放大器解调、放大后得到的和分析试样中待分析元素含量呈良好线性关系的直流模拟信号被送到微处理机进行数据处理后得到的数字信号通过RS232通讯接口送往计算机数据工作站进行数据存储、处理、打印和实现对仪器的工作过程的控制。电厂化学网pv]5GC|8J

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本发明操作简便，灵敏度高，稳定性好、对Na＋、K＋、Fe、Cu等元素的检出限达到小于0.1μg/L的国际领先水平。